應力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀 TC-TSC-2M-8 

、記錄和處理設備與結構的應力形變狀況的診斷數(shù)據(jù)的系統(tǒng)。
　　 能用于按專門的檢測方法來評估設備的應力變形狀況，并測定應力集中區(qū)。此儀器的工作原理在于測量被檢測對象表面磁場Hp的分布。磁場強度使用A/m （安培/米）為單位，長度計數(shù)器換算出長度值，以mm為單位。

    
　　該系列儀器從方法上確立了磁場Hp分布同殘余應力之間的關系。本儀器連同開發(fā)出來的于不同工業(yè)部門的檢測方法，對在運行中設備的診斷領域提供了嶄新的原理和手段。這里所采用的條件是，找出結構的薄弱部位，其形式是金屬的磁記憶。檢測方法符合聯(lián)邦采礦技術監(jiān)督局的規(guī)定。本儀器已被推薦進入聯(lián)邦標準

功能外，同時擁有以下更*結構和功能特點：

　　多達8個測量通道；
　　使用配備新型雙分量傳感器，多個鐵磁探測式轉換器放置成雙分量，用來同時檢測磁場的法向分量（Нру）和切向分量（Нрх）；

    應力集中檢測儀 金屬磁記憶檢測儀
　　數(shù)字電路、16位微處理器、1M內存；
　　32MB存儲空間，用于寫入10-15天期間檢測結果而無須將信息轉入電腦；
　　分辨率為320X240點陣的大屏幕液晶顯示；
　　操作簡化，使用14鍵鍵盤；
　　軟件直接在儀器上自動處理結果；
　　探頭可以測量場強值和移動長度值，速度Z大可達0.5米/秒；
　　不要求對被檢測對象進行專門的磁化，因為它利用了它們運行中形成的殘余磁性；
　　不要求對被檢測表面作任何準備；
　　在檢測過程中能確定事先不知道的金屬的應力集中和缺陷的部位；
　　儀器能把數(shù)據(jù)記錄到存儲器，并可把數(shù)據(jù)轉錄入計算機中；
　　配套提供分析軟件MM-System，可在計算機上對數(shù)據(jù)作深入的處理。

技術參數(shù)：

產(chǎn)品名稱：數(shù)字式電阻率測試儀/便攜式電阻率檢測儀 產(chǎn)品型號：M-2

數(shù)字式電阻率測試儀/便攜式電阻率檢測儀型號：M-2

一·概述 
M-2型數(shù)字式電阻率測試儀是運用四探針測量原理的多種用途綜合測量裝置，它可以測量片狀，塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率，測量擴散層的薄層電阻（也稱方塊電阻）。換上特制的四探針測試夾具，還可以對金屬導體的低，中值電阻進行測量。 

儀器由主機，測試探頭（可選配測試臺）等部分組成，測試結果用數(shù)字表頭直接顯示。主機主要由數(shù)控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式單片機系統(tǒng)組成，自動轉換量程。測試探頭采用高耐磨碳化鎢探針制成，定位準確，游移率較小，壽命長。 

儀器于半導體材料廠，半導體器件廠，科研單位，高等院校對半導體材料的電阻性能的測試。特別于要求快速測量中低電阻率的場合. 

本儀器工作條件為： 
溫度：  
相對濕度： 60% ~ 70% 
工作室內應無強電磁場干擾，不與高頻設備共用電源 

二· 技術參數(shù) 
1. 測量范圍： 

電阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方塊電阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
電阻：10 -3  ~ 9999Ω 



2. 可測半導體材料尺寸 
直徑：15mm-100mm 
長（或高）度：≤400mm 


3. 測量方位： 
軸向，徑向均可 

4. 數(shù)字電壓表 
量程：2V 
誤差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
Z大分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
顯示：4位數(shù)字顯示，小數(shù)點自動顯示 

5. 數(shù)控恒流源 
電流輸出： 直流電流 2μA~ 2mA, 2μA步進可調，系統(tǒng)自動調整。 
誤差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB 

6. 四探針測試探頭： 
探針間距： 1mm 
探針機械游移率：± 1% 
探針：碳化鎢，直徑0.5mm 
7.電源：  
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
電源適配器：輸入： 220V±10% 50Hz 
輸出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主機： 170mm (長) X 130mm (寬) X50mm(高)

產(chǎn)品名稱：可塑性試驗機  產(chǎn)品型號：KSD-49

可塑性試驗機 型號：KSD-49

用途：于測定生膠、素煉膠、混合膠的可塑性。 
主要技術參數(shù)： 
兩平行板間試樣承受力：49±0.05N 
控制溫度：70±1℃ 
百分表測程：0-30mm，精度0.01mm 
電熱功率：220V±10%、700W、50Hz